X射线荧光分析技术是一种快速、无损、高精准度、可多元素同时测定的物质测量方法。适合于矿产主量、次量及微量成分分析具有简便、快速的优点，这些特点使得该分析技术在许多领域都更加便携且更具优势。

对矿石分析仪能够在很少或没有样本准备的情况下，在采矿活动的各个阶段，包含从基层勘探开发，到矿石品位控制，甚至环境调查等情况下，提供快速、准确的元素分析结果，与传统的实验室方法相比，样品吞吐量高，样品密度增加，省时省心又省力。

快速测量土壤和露出地面的岩层以确定潜在的钻探目标；

直接筛分岩心和岩头皮屑；

从普通金属和金矿到矿砂和铂族元素；

矿石样本，如土壤、沉积物、岩石碎片、袋装钻屑及截割铁心等；

含有高酸样本的液体物质。